Inspection device and inspection method

WO2016174944 Art A1 3. November 2016

Anmelder: Sintokogio, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016174944
Aktenzeichen: EP16786221
Anmeldetag: 14. März 2016
Veröffentlichung: 3. November 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/26G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Sintokogio, Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sintokogio, Ltd.

Japanischer Hersteller von Gießerei- und Industrieanlagen (Formmaschinen, Oberflächenbehandlungstechnik) mit Sitz in Nagoya. Patente betreffen Gieß- und Fertigungstechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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