Method for fabricating specific termination angles in titanium tungsten layers

WO2016176453 Art A1 3. November 2016

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016176453
Aktenzeichen: EP16787152
Anmeldetag: 28. April 2016
Veröffentlichung: 3. November 2016
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/308

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Texas Instruments Incorporated
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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