System and method for use in electron microscopy

WO2016181385 Art A1 17. November 2016

Anmelder: Technion Research & Development Foundation Ltd. 🇮🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016181385
Aktenzeichen: EP16726665
Anmeldetag: 8. Mai 2016
Veröffentlichung: 17. November 2016
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/26

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Technion Research & Development Foundation Ltd.
Land: 🇮🇱 Israel

🇮🇱 Technion Research & Development Foundation Ltd.

Israelische Technologietransfer-Organisation des Technion (Israel Institute of Technology), zuständig für Patentierung und Kommerzialisierung von Forschungsergebnissen. Sitz in Haifa, Israel.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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