Temperature measurement device, temperature measurement method, and temperature measurement program

WO2016181542 Art A1 17. November 2016

Anmelder: Fujitsu Limited 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016181542
Aktenzeichen: EP15891866
Anmeldetag: 13. Mai 2015
Veröffentlichung: 17. November 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01K11/32

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Fujitsu Limited
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujitsu

Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.

17.891 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von