Ophthalmic examination support system, ophthalmic examination support server and ophthalmic examination support device

WO2016185736 Art A1 24. November 2016

Anmelder: Kabushiki Kaisha Topcon 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016185736
Aktenzeichen: EP16796131
Anmeldetag: 3. Februar 2016
Veröffentlichung: 24. November 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G06Q50/22A61B3/00A61B5/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha Topcon
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

599 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Software & Datenverarbeitung

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