Ophthalmic examination support system
WO2016185737
Art A1
24. November 2016
Anmelder: Kabushiki Kaisha Topcon 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016185737
- Aktenzeichen
- EP16796132
- Anmeldetag
- 3. Februar 2016
- Veröffentlichung
- 24. November 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06Q50/22A61B3/00A61B5/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Kabushiki Kaisha Topcon
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Kabushiki Kaisha Topcon
Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.
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Vertreten von
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