Wafer-level testing of optical circuit devices

WO2016187049 Art A1 24. November 2016

Anmelder: Alcatel Lucent 🇫🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016187049
Aktenzeichen: EP16724259
Anmeldetag: 13. Mai 2016
Veröffentlichung: 24. November 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3185G02B6/42G02B6/12

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Alcatel Lucent
Land: 🇫🇷 Frankreich

🇫🇷 Alcatel-Lucent

Ehemaliger französisch-amerikanischer Telekommunikationskonzern mit Sitz in Paris/Boulogne-Billancourt, entstanden 2006 aus der Fusion von Alcatel und Lucent Technologies. War aktiv in Netzwerktechnik, Telekommunikationsausrüstung und Glasfasertechnologie; seit 2016 Teil von Nokia.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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