Binocular measurement device, binocular measurement method, and binocular measurement program
WO2016189966
Art A1
1. Dezember 2016
Anmelder: Hamamatsu Photonics K.K. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016189966
- Aktenzeichen
- EP16799674
- Anmeldetag
- 30. März 2016
- Veröffentlichung
- 1. Dezember 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- A61B3/113
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hamamatsu Photonics K.K.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hamamatsu Photonics
Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.
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