Apparatus and method for condition monitoring of multiple electrical sub-systems

WO2016191003 Art A1 1. Dezember 2016

Anmelder: INTEL Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016191003
Aktenzeichen: EP16800461
Anmeldetag: 25. April 2016
Veröffentlichung: 1. Dezember 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/40G01R21/06G01R19/02G01R19/04G01R19/25

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: INTEL Corporation
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Intel

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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