Stimulated scintillation emission depletion (ssed) for high-resolution quantitative x-ray nanoimaging

WO2016192882 Art A1 8. Dezember 2016

Anmelder: Paul Scherrer Institut 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016192882
Aktenzeichen: EP16719312
Anmeldetag: 15. April 2016
Veröffentlichung: 8. Dezember 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01T1/20

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Paul Scherrer Institut
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 PAUL Scherrer Institut

Das Paul Scherrer Institut ist das größte Forschungszentrum für Natur- und Ingenieurwissenschaften der Schweiz mit Sitz in Villigen und Anbindung an Großforschungsanlagen wie Synchrotron und Freie-Elektronen-Laser. Die Patente betreffen vor allem Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiterelemente, ergänzt um Medizintechnik, Verfahrenstechnik und Optik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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