Defect image classification device and defect image classification method

WO2016194210 Art A1 8. Dezember 2016

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016194210
Aktenzeichen: EP15894243
Anmeldetag: 4. Juni 2015
Veröffentlichung: 8. Dezember 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/956G01N23/225

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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