Semiconductor device
WO2016194494
Art A1
8. Dezember 2016
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016194494
- Aktenzeichen
- EP16802931
- Anmeldetag
- 18. April 2016
- Veröffentlichung
- 8. Dezember 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/337H01L21/336H01L21/338H01L27/095H01L27/098H01L29/78H01L29/808H01L29/812
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
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