Method and system for iterative defect classification
WO2016196760
Art A1
8. Dezember 2016
Anmelder: KLA - Tencor Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2016196760
- Aktenzeichen
- EP16804411
- Anmeldetag
- 2. Juni 2016
- Veröffentlichung
- 8. Dezember 2016
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/88G01N21/89
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KLA - Tencor Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
KLA Corporation
US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.
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