Radiation detecting element sensitivity correction method and radiation tomography device

WO2016203822 Art A1 22. Dezember 2016

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2016203822
Aktenzeichen: EP16811297
Anmeldetag: 5. April 2016
Veröffentlichung: 22. Dezember 2016
Rechtsraum: WO
IPC: G01T1/161G01T1/17

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

2.214 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von