Method for high resolution patterning of organic layers

WO2017001353 Art A1 5. Januar 2017

Anmelder: IMEC VZW, FUJIFILM Corporation 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017001353
Aktenzeichen: EP16732314
Anmeldetag: 27. Juni 2016
Veröffentlichung: 5. Januar 2017
Rechtsraum: WO
IPC: H01L51/56H01L51/48H01L51/40

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: IMEC VZW
FUJIFILM Corporation
Land: 🇧🇪 Belgien

🇧🇪 imec

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