Ophthalmological microscope system

WO2017002379 Art A1 5. Januar 2017

Anmelder: Kabushiki Kaisha Topcon 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017002379
Aktenzeichen: EP16817489
Anmeldetag: 3. Februar 2016
Veröffentlichung: 5. Januar 2017
Rechtsraum: WO
IPC: A61B3/10A61B3/135A61B90/20A61F9/007A61F9/008

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha Topcon
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit

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