Appearance inspection apparatus and appearance inspection method
WO2017002468
Art A1
5. Januar 2017
Anmelder: SCREEN Holdings Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017002468
- Aktenzeichen
- EP16817577
- Anmeldetag
- 16. Mai 2016
- Veröffentlichung
- 5. Januar 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/84
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SCREEN Holdings Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
SCREEN Holdings
Japanischer Technologiekonzern. SCREEN Holdings stellt Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie her, insbesondere Wafer-Reinigungs- und Beschichtungssysteme, sowie Druck- und Bildverarbeitungstechnik.
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