Method of detecting quality of polysilicon thin film and system utilizing same

WO2017008320 Art A1 19. Januar 2017

Anmelder: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017008320
Aktenzeichen: EP15898047
Anmeldetag: 20. Juli 2015
Veröffentlichung: 19. Januar 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/17

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd.
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 China Star Optoelectronics (CSOT)

Chinesischer Displayhersteller mit Sitz in Shenzhen, Tochtergesellschaft des TCL-Konzerns. CSOT entwickelt und produziert LCD- und OLED-Panels für Fernseher, Monitore und mobile Endgeräte.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von