Device for high- throughput sample slicing and characterization
WO2017009800
Art A1
19. Januar 2017
Anmelder: Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL) 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017009800
- Aktenzeichen
- EP16760780
- Anmeldetag
- 14. Juli 2016
- Veröffentlichung
- 19. Januar 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N1/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
École Polytechnique Fédérale de Lausanne
Schweizer technische Hochschule und Forschungseinrichtung mit Schwerpunkt auf Ingenieur- und Naturwissenschaften.
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