Method and apparatus for detecting failure of random memory, and processor
WO2017012460
Art A1
26. Januar 2017
Anmelder: Sanechips Technology Co., Ltd. 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017012460
- Aktenzeichen
- EP16827151
- Anmeldetag
- 1. Juli 2016
- Veröffentlichung
- 26. Januar 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11C29/42
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Sanechips Technology Co., Ltd.
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Sanechips Technology
Chinesisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Shenzhen, Tochtergesellschaft von ZTE, entwickelt Chips für Telekommunikation und Netzwerktechnik.
1.106 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.