Inspection device and inspection method

WO2017014320 Art A1 26. Januar 2017

Anmelder: Yazaki Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017014320
Aktenzeichen: EP16827880
Anmeldetag: 22. Juli 2016
Veröffentlichung: 26. Januar 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/95G01N21/88G06T1/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Yazaki Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Yazaki

Japanisches Unternehmen, das Kabelbäume, Steckverbinder und elektrische Bordnetzsysteme vor allem für die Automobilindustrie entwickelt und herstellt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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