Ultra-high-speed, high-precision, three-dimensional refractive index measurement method and device using wavefront shaper
WO2017014373
Art A1
26. Januar 2017
Anmelder: Korea Advanced Institute of Science and Technology 🇰🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017014373
- Aktenzeichen
- EP15899020
- Anmeldetag
- 11. Dezember 2015
- Veröffentlichung
- 26. Januar 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/41G01N21/45G01B9/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Korea Advanced Institute of Science and Technology
- Land
- 🇰🇷 Südkorea
🇰🇷
KAIST
Südkoreanische technische Universität und Forschungsinstitution mit Fokus auf Ingenieurwissenschaften, Naturwissenschaften und Technologieentwicklung, unter anderem in Robotik und Elektronik.
1.309 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.