X-ray phase-contrast and dark-field information extraction with electric fringe scanning and/or active pixel processing

WO2017015381 Art A1 26. Januar 2017

Anmelder: Rensselaer Polytechnic Institute, University of Central Florida Research Foundation, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2017015381
Aktenzeichen
EP16828480
Anmeldetag
20. Juli 2016
Veröffentlichung
26. Januar 2017
Rechtsraum
WO
IPC
A61B6/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Rensselaer Polytechnic Institute
University of Central Florida Research Foundation, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Rensselaer Polytechnic Institute

Das Rensselaer Polytechnic Institute ist eine private technische Universität mit Sitz in Troy, New York, und eine der ältesten technischen Hochschulen der USA. Das Patentportfolio streut breit über Medizintechnik, Halbleiter und Mess- und Prüftechnik, mit weiteren Anmeldungen in Pharma, Kunststofftechnik und Software. Anmeldungen decken den Zeitraum 2000 bis 2025 ab.

418 Patente in unserer Datenbank

🇺🇸 University of Central Florida Research Foundation

Die University of Central Florida Research Foundation ist die Technologietransfer-Organisation der University of Central Florida in den USA. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik und Gesundheit sowie Pharma und Optik, ergänzt durch Mess- und organische Chemietechnik. Anmeldungen laufen von 2001 bis in die Gegenwart.

332 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen