Size detection method for photolithographic pattern

WO2017020348 Art A1 9. Februar 2017

Anmelder: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co. Ltd., Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017020348
Aktenzeichen: EP15900122
Anmeldetag: 18. August 2015
Veröffentlichung: 9. Februar 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G03F7/20

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co. Ltd.
Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd.
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 China Star Optoelectronics (CSOT)

Chinesischer Displayhersteller mit Sitz in Shenzhen, Tochtergesellschaft des TCL-Konzerns. CSOT entwickelt und produziert LCD- und OLED-Panels für Fernseher, Monitore und mobile Endgeräte.

14.706 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Optik & Fototechnik

Vertreten von