An apparatus for detecting x-rays and method of providing an apparatus for detecting x-rays

WO2017021588 Art A1 9. Februar 2017

Anmelder: Nokia Technologies Oy 🇫🇮

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017021588
Aktenzeichen: EP16747900
Anmeldetag: 19. Juli 2016
Veröffentlichung: 9. Februar 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01T1/204

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Nokia Technologies Oy
Land: 🇫🇮 Finnland

🇫🇮 Nokia Technologies

Finnisches Unternehmen der Nokia-Gruppe, das sich auf Patentlizenzierung sowie Forschung und Entwicklung im Bereich Mobilfunk-, Multimedia- und Netzwerktechnologien konzentriert.

14.990 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von