Unbiased photon mapping and tracing method

WO2017024511 Art A1 16. Februar 2017

Anmelder: Zhejiang University 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017024511
Aktenzeichen: EP15900709
Anmeldetag: 11. August 2015
Veröffentlichung: 16. Februar 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G06T15/06

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Zhejiang University
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Zhejiang University

Chinesische Universität mit Sitz in Hangzhou, eine der führenden Forschungshochschulen Chinas mit breitem Fächerspektrum einschließlich Ingenieurwissenschaften und Materialforschung.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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