Mask blank, phase shift mask, phase shift mask manufacturing method, and semiconductor device manufacturing method
WO2017038213
Art A1
9. März 2017
Anmelder: HOYA Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017038213
- Aktenzeichen
- EP16841245
- Anmeldetag
- 20. Juni 2016
- Veröffentlichung
- 9. März 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F1/26G03F1/48G03F1/80G03F1/84
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HOYA Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hoya
Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, aktiv in den Bereichen optische Gläser, Halbleiterfotomasken und medizinische Endoskopie- sowie Augenheilkundeprodukte.
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