Nanoparticle screening method and screening system, and nanoparticles and production method therefor

WO2017038511 Art A1 9. März 2017

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, NS Materials Inc. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017038511
Aktenzeichen: EP16841543
Anmeldetag: 19. August 2016
Veröffentlichung: 9. März 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/64B82Y20/00B82Y35/00G01N21/27

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
NS Materials Inc.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

3.785 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von