An interferometric microscopy technique for inspecting a sample simultaneously at different depths of the sample

WO2017041840 Art A1 16. März 2017

Anmelder: Siemens Healthcare GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017041840
Aktenzeichen: EP15763553
Anmeldetag: 9. September 2015
Veröffentlichung: 16. März 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G02B21/14G02B21/36G02B27/14G01B9/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Siemens Healthcare GmbH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Siemens Healthcare

Deutsches Unternehmen mit Sitz in Erlangen, frühere Gesundheitssparte des Siemens-Konzerns. Entwickelte medizinische Bildgebungssysteme, Diagnostik und Laborlösungen für Kliniken und Praxen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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