Dual-energy x-ray scan system, scan method and check system
WO2017054669
Art A1
6. April 2017
Anmelder: Nuctech Company Limited 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017054669
- Aktenzeichen
- EP16850293
- Anmeldetag
- 22. September 2016
- Veröffentlichung
- 6. April 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/087
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Nuctech Company Limited
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Nuctech
Chinesisches Unternehmen mit Sitz in Peking, spezialisiert auf Sicherheitsscanner und Inspektionssysteme für Flughäfen, Häfen und Grenzübergänge.
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