Surface property measuring method, surface property measuring device, and surface property measuring program

WO2017056968 Art A1 6. April 2017

Anmelder: Shiseido Company, Ltd., National University Corporation Toyohashi University of Technology, Honda Electronics Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017056968
Aktenzeichen: EP16851142
Anmeldetag: 13. September 2016
Veröffentlichung: 6. April 2017
Rechtsraum: WO
IPC: A61B8/00G01N29/09G01N29/50

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Shiseido Company, Ltd.
National University Corporation Toyohashi University of Technology
Honda Electronics Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shiseido

Japanisches Kosmetik- und Körperpflegeunternehmen mit Sitz in Tokio, gegründet 1872, eines der ältesten und größten Kosmetikunternehmen der Welt.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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