Method of error detection in a toggle electric field magnetic random access memory (tef-ram) device and tef-ram device
WO2017058111
Art A1
6. April 2017
Anmelder: Agency for Science, Technology and Research 🇸🇬
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017058111
- Aktenzeichen
- EP16852198
- Anmeldetag
- 27. September 2016
- Veröffentlichung
- 6. April 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11C29/04G11C11/16H01L27/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Agency for Science, Technology and Research
- Land
- 🇸🇬 Singapur
🇸🇬
Agency for Science, Technology and Research
Staatliche Forschungsorganisation Singapurs (bekannt als A*STAR), zuständig für angewandte Forschung in Biomedizin, Physik und Ingenieurwissenschaften. Fördert Technologietransfer zwischen Wissenschaft und Industrie.
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