Leak inspection device and leak inspection method

WO2017061626 Art A1 13. April 2017

Anmelder: Vista Corporation, Marunaka, Inc., National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Yamaguchi University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017061626
Aktenzeichen: EP16853777
Anmeldetag: 7. Oktober 2016
Veröffentlichung: 13. April 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01M3/20

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Vista Corporation
Marunaka, Inc.
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Yamaguchi University
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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🇯🇵 Yamaguchi University

Die Yamaguchi University ist eine japanische staatliche Universität. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Pharma und Medizintechnik, ergänzt um organische Chemie, Halbleiter- und Messtechnik sowie Verfahrenstechnik. Die Anmeldungen decken ein breites Spektrum von Geopolymer-Baustoffen bis zu Halbleitermaterialien wie Galliumoxid ab.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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