Multilayer reflector, method of manufacturing a multilayer reflector and lithographic apparatus
WO2017076694
Art A1
11. Mai 2017
Anmelder: Stichting Nederlandse Wetenschappelijk Onderzoek Instituten, Stichting VU, ASML Netherlands B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017076694
- Aktenzeichen
- EP16785495
- Anmeldetag
- 25. Oktober 2016
- Veröffentlichung
- 11. Mai 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/20G03F1/24G02B5/08G21K1/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Stichting Nederlandse Wetenschappelijk Onderzoek Instituten
Stichting VU
ASML Netherlands B.V. - Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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