Semiconductor Detector

WO2017085842 Art A1 26. Mai 2017

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017085842
Aktenzeichen: EP15908782
Anmeldetag: 19. November 2015
Veröffentlichung: 26. Mai 2017
Rechtsraum: WO
IPC: H01L27/146G01T1/20G01T1/24G01T7/00H01L21/60H01L29/47H01L29/872H01L31/108

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

2.214 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von