Optisches System einer Mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage oder einer Waferinspektionsanlage
WO2017092995
Art A1
8. Juni 2017
Anmelder: Carl Zeiss SMT GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017092995
- Aktenzeichen
- EP16801721
- Anmeldetag
- 10. November 2016
- Veröffentlichung
- 8. Juni 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/20G02B5/30
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Carl Zeiss SMT GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Carl Zeiss SMT
Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.
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