Inspection device and inspection method

WO2017094495 Art A1 8. Juni 2017

Anmelder: Hamamatsu Photonics K.K. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017094495
Aktenzeichen: EP16870434
Anmeldetag: 15. November 2016
Veröffentlichung: 8. Juni 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01N27/72G01R31/302

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hamamatsu Photonics K.K.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hamamatsu Photonics

Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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