Digital-to-analog converter capable of detecting and calibrating delay deviation

WO2017096503 Art A1 15. Juni 2017

Anmelder: Institute Of Microelectronics, Chinese Academy Of Sciences 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017096503
Aktenzeichen: EP15909978
Anmeldetag: 7. Dezember 2015
Veröffentlichung: 15. Juni 2017
Rechtsraum: WO
IPC: H03M1/10

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Institute Of Microelectronics, Chinese Academy Of Sciences
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences

Chinesisches Forschungsinstitut der Chinese Academy of Sciences mit Schwerpunkt auf Mikroelektronik und Halbleitertechnologie. Patente betreffen Chipdesign und Halbleiterfertigung.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik

Vertreten von