Method and device for calibrating structured-light three-dimensional scanning system
WO2017101150
Art A1
22. Juni 2017
Anmelder: Shenzhen Institutes of Advanced Technology Chinese Academy of Sciences 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017101150
- Aktenzeichen
- EP15910619
- Anmeldetag
- 25. Dezember 2015
- Veröffentlichung
- 22. Juni 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06T7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Shenzhen Institutes of Advanced Technology Chinese Academy of Sciences
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Shenzhen Institutes of Advanced Technology
Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.
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