Verfahren zum Untersuchen einer Probe mittels Lichtblatt-Mikroskopie und Lichtblatt-Mikroskop

WO2017109156 Art A1 29. Juni 2017

Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017109156
Aktenzeichen: EP16816316
Anmeldetag: 23. Dezember 2016
Veröffentlichung: 29. Juni 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G02B21/00G02B21/36G02B27/00G02B7/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Leica Microsystems CMS GmbH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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