Strain measuring device for silica glass crucible, method for producing silicon single crystal, strain measuring method for silica glass crucible, phase difference map, ingot, and homoepitaxial wafer

WO2017110762 Art A1 29. Juni 2017

Anmelder: SUMCO CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2017110762
Aktenzeichen
EP16878651
Anmeldetag
20. Dezember 2016
Veröffentlichung
29. Juni 2017
Rechtsraum
WO
IPC
C30B29/06C03B20/00C30B15/10
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
SUMCO CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Sumco

Sumco ist ein japanischer Hersteller von Siliziumwafern für die Halbleiterindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Metallurgie- und Fertigungstechnik. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.

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