Strain measuring device for silica glass crucible, method for producing silicon single crystal, strain measuring method for silica glass crucible, phase difference map, ingot, and homoepitaxial wafer
WO2017110762
Art A1
29. Juni 2017
Anmelder: SUMCO CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017110762
- Aktenzeichen
- EP16878651
- Anmeldetag
- 20. Dezember 2016
- Veröffentlichung
- 29. Juni 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C30B29/06C03B20/00C30B15/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SUMCO CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sumco
Sumco ist ein japanischer Hersteller von Siliziumwafern für die Halbleiterindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Metallurgie- und Fertigungstechnik. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.
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