Coated probe tips for plunger pins of an integrated circuit package test system

WO2017112037 Art A1 29. Juni 2017

Anmelder: Intel Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017112037
Aktenzeichen: EP16879541
Anmeldetag: 12. Oktober 2016
Veröffentlichung: 29. Juni 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01R1/067G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Intel Corporation
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Intel

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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