Method and device for high-intensity focused ultrasound damage determination

WO2017113177 Art A1 6. Juli 2017

Anmelder: Shenzhen Institutes of Advanced Technology Chinese Academy of Sciences 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017113177
Aktenzeichen: EP15911806
Anmeldetag: 30. Dezember 2015
Veröffentlichung: 6. Juli 2017
Rechtsraum: WO
IPC: A61N7/00A61B5/055

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shenzhen Institutes of Advanced Technology Chinese Academy of Sciences
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Shenzhen Institutes of Advanced Technology

Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit

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