Method and device for testing interconnections of multiple chips in system-in-package chip

WO2017113883 Art A1 6. Juli 2017

Anmelder: Sanechips Technology Co., Ltd. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2017113883
Aktenzeichen
EP16880676
Anmeldetag
9. September 2016
Veröffentlichung
6. Juli 2017
Rechtsraum
WO
IPC
G01R31/00
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Sanechips Technology Co., Ltd.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Sanechips Technology

Chinesisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Shenzhen, Tochtergesellschaft von ZTE, entwickelt Chips für Telekommunikation und Netzwerktechnik.

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