Wafer polishing method, back pad manufacturing method, back pad, and polishing head provided with back pad
WO2017125987
Art A1
27. Juli 2017
Anmelder: Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017125987
- Aktenzeichen
- EP16886231
- Anmeldetag
- 26. Dezember 2016
- Veröffentlichung
- 27. Juli 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- B24B37/30H01L21/304
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Shin-Etsu Handotai Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Shin-Etsu Handotai
Japanisches Unternehmen der Shin-Etsu-Gruppe, das Siliziumwafer für die Halbleiterindustrie herstellt.
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Vertreten von
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