Defect inspection device, method, and program

WO2017130477 Art A1 3. August 2017

Anmelder: Fujifilm Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017130477
Aktenzeichen: EP16888062
Anmeldetag: 18. Oktober 2016
Veröffentlichung: 3. August 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88G01B11/30G01B15/00G01N21/84G01N23/04G01N23/18

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Fujifilm Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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