Pattern formation method, method for manufacturing electronic device, and actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition
WO2017135003
Art A1
10. August 2017
Anmelder: FUJIFILM Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017135003
- Aktenzeichen
- EP17747165
- Anmeldetag
- 12. Januar 2017
- Veröffentlichung
- 10. August 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/20G03F7/004G03F7/038G03F7/039
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FUJIFILM Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujifilm
Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.
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