Ophthalmological device and ophthalmological inspection system

WO2017135015 Art A1 10. August 2017

Anmelder: Topcon Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017135015
Aktenzeichen: EP17747177
Anmeldetag: 13. Januar 2017
Veröffentlichung: 10. August 2017
Rechtsraum: WO
IPC: A61B3/103A61B3/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Topcon Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit

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