Ophthalmological device and ophthalmological inspection system
WO2017135016
Art A1
10. August 2017
Anmelder: Topcon Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017135016
- Aktenzeichen
- EP17747178
- Anmeldetag
- 13. Januar 2017
- Veröffentlichung
- 10. August 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- A61B3/10A61B3/103
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Topcon Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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