Probe pin and inspection device using same

WO2017141564 Art A1 24. August 2017

Anmelder: Omron Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017141564
Aktenzeichen: EP17752828
Anmeldetag: 6. Januar 2017
Veröffentlichung: 24. August 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01R1/067G01R1/073

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Omron Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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